SEM能譜 檢測介紹
SEM能譜檢測,即掃描電子顯微鏡檢測(Scanning ElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡(TEM之后發展起來的一種電子顯微鏡)。掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產生各種與試樣性質有關的信息,然后加以收集和處理從而獲得微觀形貌放大像。
中科檢測開展SEM能譜檢測服務,可為高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物等產品提供專業的SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等服務。
SEM能譜 檢測范圍
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析;
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定;
3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析,如:金屬化膜表面鍍層的檢測;
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領域;
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分布分析。
SEM能譜 檢測項目
SEM能譜檢測、定性分析、半定量分析、元素分析等。
SEM能譜 檢測標準
GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細粒子單顆粒形貌與元素分析
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法
DB44/T 1215-2013 利用掃描電子顯微術和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性
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