通信用光電子器件低溫貯存試驗

中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的低溫貯存試驗服務。

我們的服務專項服務 通信用光電子器件低溫貯存試驗

通信用光電子器件低溫貯存試驗試驗背景

進行低溫試驗的目的是為了確定產品在低溫條件下貯存或使用的適應性。所謂低溫條件下的適應性是指產品在恒定的低溫條件下貯存或使用時，能保持完好，不受損壞并能正常工作的能力。通信用光電子器件低溫貯存試驗可確定光電子器件能否經受低溫下運輸和貯存，以保證光電子器件經受低溫后能在規定條件下正常工作。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的低溫貯存試驗服務。

通信用光電子器件低溫貯存試驗試驗范圍

1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。

通信用光電子器件低溫貯存試驗試驗方法

按以下程序進行試驗：
a）試驗前測試試樣的主要光電特性；
b）把試樣貯存在規定試驗條件的低溫試驗箱中，在開始計時之前應有足夠降溫時間，使所有試樣處在規定的溫度下，溫度傳感器應位于工作區內最高溫度的位置處；
c）在達到規定的試驗時間后，把試樣從試驗環境中移出，放置24 h，使之達到標準測試條件，并對試樣光電特性進行測試。

通信用光電子器件低溫貯存試驗試驗標準

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護套材料通用試驗方法第14部分：通用試驗方法低溫試驗